SJT 1147-93 电容器用有机薄膜电性能试验方法
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ID： |
0F83ABE915D549109392443126C8EBA4 |
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0.07 |
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4 |
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日期： |
2013-7-16 |
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L 90,Sqj,中华人民共和国电子行业标准,sJ/T 1145 -1148-93,电容器用有机薄膜电性能,试 验 方 法,Test methods for electrical performances,of o rganicf ilm foru se in capacitors,1993-12-17发布1994-06-01实施,中华人民共和国电子工业部发布,中华人民共和国电子行业标准,电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和,介 电常 数 试 验 方 法,Test method for dielectric loss angle tangent and dielectric,ca ns ta nt o fo rganic film for usei n capacitors,SJ/T 1147-93,代替SJ 1147-77,主题内容与适用范围,11 主题内容,本标 准 规 定了电容器用有机薄腆介质损耗角正切值和介电常数的试验方法.,1.2 适用范围,本标 准 适 用于厚度为2- 50iam的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下，频率为,50Hz,1kH:或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定.,弓I用标准,SJ/T 1145 电容器用有机薄膜电性能试验方法通则,SJ/T 1146 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法,方法要点,本方 法 是在规定的频率下，用电桥或其他仪器测出试样的电容或介质损耗角正切值，并根,据试样的电容值，厚度以及测量电极面积算出其介电常数,测t仪器,能满 足 薄 膜试样的介质损耗角正切值和电容值测试范围的任何仪器均可使用，但测试介,质损耗角正切值误差应不大于1%itg8I+1X10-s;测试电容值时，误差应不大于士1%0,测 试 时 ，试样与测量导线应有良好的屏蔽,试验方法,5.1 方法一真空蒸发铝电极法(本方法为仲裁方法),5.1.1 试样,采用 与 S J/T 1146中3.1.1.1条规定的相同试样，每组试样不少于3个,试 样 要 求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定,中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1994-06-01实施,一6 一,SJ/'r 1147- 93,5.1.2 电极,与 SJ/ T 1146中3.1.1.2.2条规定的电极相同,5.1.3 试验步骤,a. 将 试样放置在上下电极之间，上电极应与试样燕镀面完全吻合;,b. 测 试 频率为50Hz(如果需要，也可用1kH:及WHO,测试电压不超赶205v，记录内,容的测量值;,c. 在 蒸 镀面周围测量试样未被燕镀部分的膜厚(至少测量五点)取其平均值为试样的厚,度,5.，.4 试验结果的计算,5.1.4.1 介电常数按下式计算，取3个试样计算结果的平均值作为试验结果,= 14. 4,C竺d,式中::— 介电常数;,Cx — 试 验 样电容值，pF;,d— 试 样 厚 度，cm;,D — 上 电 极直径,5.1.4.2 介质损耗角正切值的计算方法根据不同的仪器而定，其结果以3个试样的算术平均,值作为试验结果.,5.2 方法二橡皮铝箔电极法,5.2.1 试样,5.2.1.1 试样尺寸根据测量电极尺寸而定，但需保证大于电极直径10mm以上.,5.2.1.2 试样层数按试样厚度(d)而定，见下表，层间必须保持清洁，空气应排除，且迭合,整齐，无折皱及损伤,试 样 厚 度 及 层 数,厚度(d),拌恤,层数,d妻10 1,10>d16 2,d(6 3,5.2.1.3 试样要求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定,5.2.1.4 试样数量每组试样不少于3个.,5.2.2 电极,a. 上 电极直径为20士0.lm m，下电极直径为25士。lmm，材料为铜，电极工作面粗糙度,R.的最大允许值为。.8pm，用螺旋压紧接触式电极夹具使电极与试样紧密接触。夹具的金属材,料为铜或俐，绝缘材料为聚四氟乙烯，夹具本身的介质损耗角正切值应不大于1X10-5,b. 在 上下电极的工作面再附加橡皮铝箔电极。橡皮为导电橡皮，厚约lmm,表面粗糙度,R。的最大允许值为1. 25pm,邵氏硬度为H 40 ^- H 50，体积电阻率应不大于1000,Q-cm，铝箔,应退火，厚度要小于1如m，表面应平整光滑，见图1,— 7 一,SJ/T 1147-93,1.金 属 电 极 ; 2 .导 电 橡 皮 } 3. 铝 箔 .,5.2.3 试验步骤,二 将 试样夹入两电极中间.两电极必须同心，电极与试样必须紧密接触.,b. 测 试频率为50Hz(如果需要，也可用IkH.及1MHz).测试电压不超过250V，记录电,容的测量值;,c. 在 放置电极的面积内，测量试样3点的厚度，取其算数平均值作为试样厚度,5.2.4 试验结果的计算,按 5. 1. 4进行,附加说明:,本标准由电子工业部标准化研究所归口,本标准由铜陵市薄膜电容器总厂负责起草、,本标准主要起草人，章晓红、叶立新、周荣,本标准于1977年6月首次发布,一8一……
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